电子元器件在出厂前都需要进行老化测试。老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。如果不藉由老化，很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。对于步进电机驱动器老化测试主要有这几种方式：
1、驱动器性能测试。主要集中在驱动器效率、谐波分析、三相不平衡度分析、干扰分析等测试项目；
2、驱动器响应测试。主要是通过电机测试台架，给电机施加不同的负载，观察负载变化时电机驱动器能否根据算法快速地调节电机的工作状态，评估驱动器的响应性能。
3、驱动器老化测试：主要测试驱动器抗老化能力。
以上三种就是步进电机驱动器老化测试方式。具体测试原理及测试方案可以参考我们电机测试系统。
下面是对我们ED系列步进驱动器进行测试。我们把驱动器设置到7.2A电流，长达48小时老化测试。
步进电机驱动器老化测试
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规格参数
型号
Model
ED08~34最小值典型值最大值单位最大峰值电流--8A输入电源电压203670VDC逻辑输入电流71016mA脉冲频率-200-kHz绝缘电阻500--MΩ了解更多详情请点击》》》》